ZEISS/蔡司AxioImager2正置顯微鏡

ZEISS/蔡司AxioImager2正置顯微鏡用于高級材料研究項目，將易于操作的編碼或自動化系統(tǒng)引入工作流程。AxioImager2能夠在質(zhì)量控制和流程控制中提供精準且可重復的結(jié)果.

介紹

用于高級材料研究的顯微鏡系統(tǒng)

將易操作性引入顯微工作流程-AxioImager2確保在質(zhì)量檢驗和流程控制中提供精準且可重復的結(jié)果。

AxioImager2擁有出色的光學鏡頭和均勻照明的特性。觀察方式和光路管理器能夠確保預設(shè)條件和可重復的結(jié)果。配置了ACR功能的AxioImager.Z2m能自動檢測和選擇物鏡以及觀察方式模塊。

從四種不同的主機架中選擇您需要的系統(tǒng)，并借助專業(yè)解決方案擴展應(yīng)用：ParticleAnalyzer、關(guān)聯(lián)顯微系統(tǒng)或LSM700。

特點

•具有高對比度和分辨率的出色光學系統(tǒng)

•模塊化主機設(shè)計，利用一系列電動和編碼組件增強靈活度

•穩(wěn)定的主機和無振動的工作環(huán)境能夠確保觀測結(jié)果的可重復性

•使用激光共聚焦掃描顯微鏡LSM700對AxioImager2進行升級

•在關(guān)聯(lián)顯微系統(tǒng)的工作和顆粒度分析中使用AxioImager2

•在質(zhì)量檢驗和流程控制中，自動化功能可確保重復檢測結(jié)果的精準

觀察方式

觀察方式選擇

•研究和檢測不同材料。分析金屬結(jié)構(gòu)、復合材料、玻璃、木材和陶瓷。檢查聚合物和液晶。

•多種觀察方式可供選擇，以獲得更多豐富的信息。使用反射光，在明場、暗場、微分干涉（DIC）、圓微分干涉（C-DIC）、偏光或熒光下觀察樣品。使用透射光，在明場、暗場、微分干涉（DIC）、偏光或圓偏光下檢測樣品。

•觀察方式管理器能確保AxioImager2的照明設(shè)置可復制。

人體工程學設(shè)計

出眾的表面應(yīng)用

•AxioImager.Z2m或AxioImager.M2m可以在觸摸屏上顯示關(guān)鍵操作功能，使用指尖控制所有電動組件。

•其他控制按鈕依照人體工程學方式排列在調(diào)焦驅(qū)動裝置周邊，可通過觸覺輕易的區(qū)分各控制按鈕。

•AxioImager.D2m有5個預編程按鈕，而AxioImager.Z2m則有10個用戶自定義按鈕。

熱顯微技術(shù)

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